Elektronische Teile : SN74BCT8374ADWR

Hersteller : Texas Instruments

Verpackung :

Pins :

Beschreibung : SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS

Temperatur : Min °C | Max °C

Datasheet : SN74BCT8374ADWR PDF

• SN74BCT8373
• SN74BCT8373A
• SN74BCT8373ADW
• SN74BCT8373ADWE4
• SN74BCT8373ADWR
• SN74BCT8373ADWRE4
• SN74BCT8373ANT
• SN74BCT8373ANTE4
• SN74BCT8374A
• SN74BCT8374ADW
• SN74BCT8374ADWE4
• SN74BCT8374ADWG4
• SN74BCT8374ADWR
• SN74BCT8374ADWRE4
• SN74BCT8374ADWRG4